ACT晶振,3225G SMX‐4晶振,3.2*2.5mm陶瓷面封装晶振

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ACT晶振,贴片晶振,3225G SMX‐4晶振,3.2*2.5mm陶瓷面封装晶振

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ACT晶振,贴片晶振,3225G SMX‐4晶振,3.2*2.5mm陶瓷面封装晶振

频率：10.0MHz - 64.0MHz

尺寸：3.2 x 2.5mm

新名称和新方向
自1986年以来，ACT - 以前的高级晶体技术 - 已发展成为高性能频率控制产品的领先设计合作伙伴。
通过新的合作伙伴关系定制频率解决方案
我们与Esterline研究和设计（ERD）的合作使我们能够突破高精度振荡器技术的界限。这些突破性产品为TCXO和OCXO设立了新标准，创造了当今市场上性能最高，最精确的振荡器技术。
各种标准频率产品
我们还拥有强大的频率控制产品组合，包括晶体，时钟振荡器，TCXO和滤波器。
全球分销网络
作为discoverIE Group plc的一部分，通过我们的独立分销合作伙伴，ACT可以在全球范围内支持您的频率控制要求。

订购热线：0755-29952090

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ACT晶振,贴片晶振,3225G SMX‐4晶振,3.2*2.5mm陶瓷面封装晶振,新名称和新方向

自1986年以来，ACT晶振 - 以前的高级晶体技术 - 已发展成为高性能频率控制产品的领先设计合作伙伴。

通过新的合作伙伴关系定制频率解决方案

我们与Esterline研究和设计（ERD）的合作使我们能够突破高精度振荡器技术的界限。这些突破性产品为TCXO和OCXO晶振设立了新标准，创造了当今市场上性能最高，最精确的振荡器技术。

各种标准频率产品

我们还拥有强大的频率控制产品组合，包括晶体，进口时钟晶体振荡器，温度补偿晶振和滤波器。

全球分销网络

作为discoverIE Group plc的一部分，通过我们的独立分销合作伙伴，ACT可以在全球范围内支持您的频率控制要求。ACT晶振,贴片晶振,3225G SMX‐4晶振,3.2*2.5mm陶瓷面封装晶振

ACT晶振规格	单位	3225G SMX‐4晶振频率范围	石英晶振基本条件
标准频率	f_nom	10.0MHz - 64.0MHz	标准频率
储存温度	T_stg	‐55°C - +125°C	裸存
工作温度	T_use	‐20°C - +70°C, ‐30°C - +85°C, ‐40°C -+85°C	标准温度
激励功率	DL	200µW	推荐:1µW
频率公差	f_— l	±10.0ppm - ±50.0ppm	+25°C 对于超出标准的规格说明,请联系我们以便获取相关的信息,http://www.jyyshkj.com/
频率温度特征	f_tem	-0.034±0.008ppm	超出标准的规格请联系我们.
负载电容	CL	6.0pF - 20.0pF	不同负载要求,请联系我们.
串联电阻(ESR)	R1	如下表所示	-40°C — +85°C, DL = 100μW
频率老化	f_age	±2× 10-6 / year Max.	+25°C,第一年

3225G-SMX-4 3225

同样，如果另一个微处理器的数据保持时间要求为2 nS，但现在时钟抖动为+1.5 nS，则数据保持时间有效减少到0.5 nS。微处理器再一次看到不正确的数据。图2说明了这种情况。ACT晶振,贴片晶振,3225G SMX‐4晶振,3.2*2.5mm陶瓷面封装晶振

从RMS抖动计算峰间抖动

因为时钟的周期抖动本质上是高斯分布的随机性，所以它可以用皮秒（pS）中的均方根（RMS）值完全表示。但是，峰峰值在计算建立和保持时间预算时更为重要。要将样本量为10,000的RMS抖动转换为峰峰值（Pk-Pk）抖动，读者可以使用以下公式：

峰 - 峰周期抖动= 7.44 x（RMS抖动）等式1例如，如果RMS抖动为3 pS，则峰峰值抖动为±11.16 pS。

等式1是从高斯概率密度函数（PDF）表导出的。例如，如果样本大小为100，则这些样本中的99个将落在分布平均值的±2.327σ内，平均而言，只有1个样本落在该区域之外。ACT MMD测量JEDEC标准规定的样本量为10,000的RMS周期抖动。

周期抖动测量方法

周期抖动在JEDEC标准65B中定义为信号的周期时间相对于多个随机选择周期内的理想周期的偏差。JEDEC标准进一步规定，周期抖动应在10,000个周期的样本上测量。IACT MMD推荐使用以下步骤测量周期抖动：

1.测量一个时钟周期的持续时间（上升沿到上升沿）

2.等待随机数的时钟周期

3.重复上述步骤10,000次

4.计算10,000个样本的平均值，标准偏差（σ）和峰 - 峰值

5.重复上述测量25次。从25组结果中，计算平均峰 - 峰值。

从10,000个随机样本（步骤4）的测量计算出的标准偏差（σ）或RMS值非常准确。ACT晶振,贴片晶振,3225G SMX‐4晶振,3.2*2.5mm陶瓷面封装晶振

3其中σn是收集的样本的RMS（或西格玛），N是样本大小。对于10,000的样本量，ErrorRMS是0.0071σn。这个错误是随机的，它遵循高斯分布。最差情况下的测量误差通常以±3 ErrorRMS计算。ACT晶振,贴片晶振,3225G SMX‐4晶振,3.2*2.5mm陶瓷面封装晶振

例如，如果从10,000个随机采样计算出的RMS值为10 pS，那么ErrorRMS将为0.071 pS，并且实际上该测量的所有RMS值仍将落在10±0.213 pS的窄范围内。在实际应用中，样本集10,000中的RMS误差足够小，可以忽略。

虽然精确的RMS值可以从随机的10000个采样集合中计算出来，但峰峰值更难以测量。由于周期抖动的随机性，样本量越大，分布曲线远端数据点的拾取概率越高。换句话说，随着收集更多样本，峰峰值发散而不是收敛。这就是为什么我们增加了一个额外的步骤，第5步产生更一致和可重复的峰峰值测量。

10,000次随机样本的每次测量（步骤4）产生一个标准偏差值和一个峰 - 峰值。通过随机重复这个过程25次，我们可以收集一组好的数据点，从中我们可以高精度地计算平均峰值。我们也可以从这些数据中计算平均RMS值，但它将非常接近从每次单独运行得到的RMS值。

图3是Wavecrest SIA-4000C捕获的125 MHz运行的3.3V 8102振荡器的周期抖动直方图。它代表从10,000个样本测量的一组RMS和峰间值（步骤4）。ACT晶振,贴片晶振,3225G SMX‐4晶振,3.2*2.5mm陶瓷面封装晶振

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