预测老化行为振荡器使用不同的拟合算法

预测老化行为振荡器使用不同的拟合算法

本文提出了不同的计算方法和测量老化数据的曲线拟合,人们普遍认为石英晶体的频移与时间关系是对数关系,至于频移与温度的关系,在恒定温度和时间下是可以考虑老化和温度的影响,为了衡量回归的质量,需要计算相关系数与测量数据,由于衰老发展时间不足处理,衰老不太可能是主要阶段的频移因素,得出结论是不考虑温度变化,对于老化或频移与时间关系更好计算结果.

确定贴片振荡器老化行为的测试结果,更准确地说是试图尽量减少所需的时间正确预测老化系统中的OCXO晶振,OCXO老化系统允许同时测量多达1600个OCXO在任何时期,作为数据基础,人们可以回到广泛的老龄化档案现在有超过50000个OCXO数据的数据,OCXO有时会被遗忘新开发期间的测试测量系统,其中一些超过250天,这些数据用于测试,对高频OCXO的长期老化行为的预测始终是连通的不确定因素是否真正测量了振荡器的老化曲线保持.

超过30天收集的OCXO的测量数据,在这相对较短的时间之后与预测周期相关的系数适应于测量数据最小二乘算法,现在可以从这些推导出预测的老化值系数,测量时间为10~20天,具体取决于OCXO晶振类型,获得的系数直接用于预测老化行为,长系列测量揭示在几乎80％的情况下,这意味着实际老化率超过所有测量的80％,OCXO比预测更好,图1显示了典型的测量曲线相应的拟合曲线,真正的老化曲线比拟合曲线明显更平坦功能,因此,预测值高于实际预期值.

由于数值较小,数据量也保持较小的绝对值频率只能存储一次,由于OCXO的长期测量它可以证明修改的对数函数与现实很好地相关(图2),石英晶体振荡器的老化受到许多因素的影响不同的机制,一些影响因素可以最小化,气温例如在空调房间中振荡器的依赖性仅是次要的,然而,许多振荡器显示出奇怪的老化行为,OCXO似乎相互影响通过注射锁定,热影响和机械振动或颠簸,因此,在某些情况下,几个OCXO同时显示频率跳变或改变它们同时消耗电流,在这些情况下,对衰老的精确估计几乎是不可能,因为原因通常是不可重复的.

在具有连续老化行为的OCXO的情况下,预测准确度可以是通过适当的行动大大改善。图2显示了ATOCXO代表对所有测量值的典型老化行为振荡器,在整个测量时间内拟合曲线,超过70％的人测得的老化曲线存在类似的良好相关性,大约20％的OCXO显示频率跳跃,在这个测试中没有考虑它们,图2测量的老化曲线,适合超过一年另外10％是具有SC切割晶体的非常稳定的OCXO晶体振荡器,其他效果是比老化更强(如温度稳定性,相邻振荡器的影响,供应电压变化,注入锁定等)影响老化测量,因此拟合算法通常找不到令人满意的解决方案,这部分导致极端的结果.

因此,对于大t,年度老化几乎独立于a2,它可以描述有限时间间隔内的t值大于斜率的直线a1/t,根据振荡器类型,在30到250天后就是这种情况,曲线有在小的t值下a1a2的最大斜率,在这个时间间隔内,曲线拟合通常是完成,因此对于算法而言,长期系数a1对于该算法具有几乎相同的影响最小二乘结果比短期系数a2,正因为如此选择算法系数提取对函数的长期梯度a1有很大影响,描述了一些方法和算法以提高预测的准确性.

拟合测量曲线与实际测量曲线的相关性可以得到改善,通过这种限制的适应性适合测量值几乎没有变化,在一年的整个测量时间内的曲线拟合表明存在即使在初始老化强烈的情况下,也与对数函数具有良好的相关性,而长期老化行为在初始阶段后显示出良好的价值这种行为似乎取决于通常可以在相同类型的所有OCXO振荡器上观察到振荡器类型相同程度,一个简单的实现可能性是使用加权拟合程序进行测量使用可变重要性评估值.